The analyses of dynamic response and reliability for failure-dependent stochastic micro-resonator with thermoelastic coupling effects

verfasst von

Bin Yan, Juan Ma, Di Wu, Peter Wriggers

Organisationseinheit(en)

Institut für Kontinuumsmechanik

Externe Organisation(en)

Xidian University
University of New South Wales (UNSW)
Xi'an Microelectronics Technology Institute

Typ

Artikel

Journal

Applied mathematical modelling

Band

77

Seiten

1168-1187

Anzahl der Seiten

20

ISSN

0307-904X

Publikationsdatum

01.2020

Publikationsstatus

Veröffentlicht

Peer-reviewed

Ja

ASJC Scopus Sachgebiete

Modellierung und Simulation, Angewandte Mathematik

Elektronische Version(en)

https://doi.org/10.1016/j.apm.2019.09.040 (Zugang: Geschlossen)