The analyses of dynamic response and reliability for failure-dependent stochastic micro-resonator with thermoelastic coupling effects

verfasst von
Bin Yan, Juan Ma, Di Wu, Peter Wriggers
Organisationseinheit(en)
Institut für Kontinuumsmechanik
Externe Organisation(en)
Xidian University
University of New South Wales (UNSW)
Xi'an Microelectronics Technology Institute
Typ
Artikel
Journal
Applied mathematical modelling
Band
77
Seiten
1168-1187
Anzahl der Seiten
20
ISSN
0307-904X
Publikationsdatum
01.2020
Publikationsstatus
Veröffentlicht
Peer-reviewed
Ja
ASJC Scopus Sachgebiete
Modellierung und Simulation, Angewandte Mathematik
Elektronische Version(en)
https://doi.org/10.1016/j.apm.2019.09.040 (Zugang: Geschlossen)